Катодолюминесцентная система Delmic SPARC и решение SECOM CLEM, установленные на одном приборе FIB-SEM в UTS. На вставке показан внешний спектрометр глубокого УФ-излучения и модуль временной корреляции LAB Cube.

AXT и Delmic гордятся первой в мире установкой. Недавно они установили катодолюминесцентный (CL) Delmic SPARC и корреляционный световой и сканирующий электронный микроскоп (CLEM) SECOM на том же FIB-SEM в Отделении микроструктурного анализа в Технологическом университете Сиднея (UTS).

SPARC является наиболее полной и универсальной доступной системой CL, предлагающей больше режимов измерения, чем любая другая система. Эта установка стала еще более важной благодаря тому факту, что она является первой в мире, в которой используется модуль CL с временным разрешением Delmic LAB Cube, который предоставляет бесценную информацию для исследований в области фотоэлектрической энергии, светоизлучающих устройств и одиночных излучателей. Он также отличается выдающейся эффективностью сбора света и другой оптимизированной оптикой для максимального повышения эффективности сбора света. Специальная система, установленная в UTS, включает три высокочувствительные ПЗС-камеры, охватывающие УФ, видимый и ближний инфракрасный диапазоны спектра (от 180 до 1600 нм).

Сочетание оптической флуоресцентной микроскопии и сканирующей электронной микроскопии (SEM) in situ, уникальный прибор SECOM обычно используется для биологических применений. Хотя их система будет использоваться для этого приложения, она также была адаптирована для изучения современных светоизлучающих материалов с использованием фотолюминесценции (ФЛ).

Установив обе системы на одном приборе FIB-SEM, исследователи UTS раскрыли потенциал для проведения некоторых уникальных корреляционных экспериментов. Эти эксперименты могут дать новое понимание новых материалов, таких как многофункциональные 2D-материалы, усовершенствованные метаматериалы и излучатели одиночных фотонов с приложениями в квантовой плазмонике и нанофотонике.

Мы много лет участвовали в исследованиях CL, и новый SPARC расширяет и расширяет наши возможности. Мне очень интересно исследовать новые режимы CL с угловым, временным и поляризованным разрешениями, а также посмотреть, как мы можем применить дополнительные наборы данных из системы SECOM.

Профессор Мэтью Филлипс, Технологический университет, Сидней (UTS)

Эта уникальная установка была приобретена благодаря финансированию Австралийского исследовательского совета (грант ARC LE180100030) при сотрудничестве нескольких университетов в Новом Южном Уэльсе, Квинсленде и Виктории. Это позволит увидеть систему, которую будут использовать многие исследователи, которые будут вовлечены в определение характеристик широкого спектра материалов, таких как нанофотоника, оптоэлектроника, плазмоника и другие новые материалы.

Для получения более подробной информации о системах Delmic SPARC и SECOM, а также об обширном портфеле микроскопов AXT, посетите сайт www.axt.com.au.