Использование фотоиндуцированной силовой микроскопии для визуализации ближнего оптического поля наночастиц

Использование фотоиндуцированной силовой микроскопии для визуализации ближнего оптического поля наночастиц

Группа ученых под руководством факультета прикладной физики Университета Осаки, факультета физики и электроники Университета префектуры Осака и факультета химии материалов Университета Нагоя использовала микроскопию фотоиндуцированных сил для картирования сил действует на квантовые точки в трех измерениях.

Устраняя источники шума, команда смогла впервые в истории достичь субнанометровой точности, что может привести к новым достижениям в области фотокатализаторов и оптических пинцетов.

Силовые поля – это не невидимые препятствия в научной фантастике, а набор векторов, указывающих величину и направление сил, действующих в определенной области пространства. Нанотехнологии, которые включают создание и управление крошечными устройствами, такими как квантовые точки, иногда используют лазеры для оптического захвата и перемещения этих объектов. Однако способность анализировать и управлять такими небольшими системами требует лучшего способа визуализации трехмерных сил, действующих на них.

Теперь группа исследователей из Университета Осаки, Университета префектуры Осака и Университета Нагоя впервые показала, как фотоиндуцированную силовую микроскопию можно использовать для получения трехмерных диаграмм силового поля с субнанометровым разрешением. «Нам удалось получить изображение ближнего оптического поля наночастиц с помощью фотоиндуцированного силового микроскопа. Он измеряет оптическую силу между образцом и зондом, вызванную световым излучением», – говорит первый автор Дзюнсуке Яманиши.

Лазерный свет направлялся на квантовую точку, расположенную под наконечником атомно-силовой микроскопии. Перемещение точки относительно наконечника позволило микроскопу отобразить трехмерное фотоиндуцированное силовое поле. Команда смогла достичь такого высокого уровня точности с помощью нескольких экспериментальных улучшений. Они использовали условия сверхвысокого вакуума для увеличения чувствительности к силе и использовали гетеродинную частотную модуляцию, которая включает смешивание двух других частот, чтобы значительно уменьшить воздействие теплового нагрева. «Мы уменьшили фототермический эффект с помощью этой уникальной технологии и впервые в истории достигли разрешения менее одного нанометра», – говорит старший автор Ясухиро Сугавара.

Это исследование может представлять собой принципиально новую технологию для разработки и оценки функциональных наноматериалов. Это также может помочь дополнить набор методов, доступных ученым, работающим с фотокатализаторами и оптическими функциональными устройствами, для их перемещения с помощью лазеров.

Статья «Картирование оптических сил в масштабе одного нанометра» была опубликована в Nature Communications по адресу DOI: https://doi.org/10.1038/s41467-021 -24136-2

Источник: https://www.osaka-u.ac.jp/en

Source link